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半導體中心-中文

半導體參數分析儀/真空探針台

🏭 廠牌型號

半導體參數分析儀: Keysight / B1500A

真空探針台:禧恩科技POMME / MF-P2000LNT

設備用途 / 功能特色

用於進行半導體元件之精密電性參數量測,適用於分析元件在各種製程條件下的電性表現,具有高精度之I-VC-V電性量測功能,支援低電流、高電壓與多頻率容量測試且能於各量測功能間快速切換。

📊 技術規格

l  最大支援基板尺寸:Samples with 8 inch diameter

l  探針與探針座:4組探針調整座

l  XYZ移動行程:X > 100mmY > 50mmZ > 25mm

l  顯微鏡放大倍率:0.75X ~ 5X

l  放置環境:暗箱、防震桌

l  量測頻率範圍:1 kHz5 MHz

l  電壓電流輸出範圍:最高可達200V/1A

l  解析度:大於0.1fA/0.5 μV

l  模組套件:
1. 2HRSMU高解析度量測單位
2. 1HPSMU高功率量測單位
3. 1MPSMU中功率量測單位
4. 1MFCMU多頻電容量測單位
5. 1WGFMU任意波形產生器
6. 1HV-SPGU高電壓脈衝產生器
7. 1SCUU模組

🔬 應用

l   電子元件或半導體元件之參數特性量測(如 IVCV

l   快速脈衝或動態 IV 量測

l   多頻率電容/電壓量測 (MFCMU 模組) 以及 IV/CV 自動切換 (搭配 SCUU 模組) 的高效率測試流程

📍 設備位置

國立臺灣大學 水源校區 卓越研究大樓2F無塵室 量測區

📞 管理人 / 預約方式

管理人:江至皓 博士
預約方式:請由晶片驅動–全台半導體資源共享平台預約

安全與使用注意事項

l   操作前須完成儀器訓練並獲得使用權限

l   使用時請遵守中心安全規範與 SOP

l   若發現異常狀況,請立即停止操作並通知管理人

l   需自備探針

l   操作手冊